串联谐振试验装置常见故障

1.串联谐振试验装置闪络现象

在气体或液体介质中，沿固体绝缘表面发生破坏性放电时，称为闪络，闪络现象是指当固体绝缘子周围的气体或液体介质发生破坏时，沿固体绝缘子表面的击穿电压放电现象。放电时发生闪络现象的电压称为闪络电压，绝缘子闪络后，电极间电压迅速降至零或接近零，闪络通道中的火花或电弧会导致绝缘表面局部过热，损坏表面绝缘。

常见的闪络发生在气体和固体电介质的界面上，沿绝缘子串表面的破坏性放电称为闪络，“闪络”一词用于特殊条件下的放电现象。

2.串联谐振试验装置放电现象

放电现象是一般概念，一般是指在电场作用下绝缘材料从绝缘状态到导电态的跳跃现象，这种跳跃现象可能以“穿透”的形式出现在电极之间。也就是说，绝缘材料是完全短接和破坏。此时，电极间的电压迅速下降到极低或接近零，这被称为破坏性放电。跳变现象也可能发生在电极之间的局部区域，使绝缘材料成为其中的一部分。短接时，其余部分仍具有良好的绝缘性能，电极间电压仍能保持一定值，称为局部放电。

破坏性放电和局部放电可用于所有的电介质及其组合，然而，放电发生在不同的电介质及其组合中，并有一个特殊的名称，在气体或液体介质中，电极间的破坏性放电称为火花放电。例如，气隙和油隙之间的破坏性放电应为火花放电。

当固体介质发生破坏性放电时，称为击穿，当发生击穿时，固体电介质中会留下痕迹，导致固体电介质的绝缘性能损失，如绝缘纸板破裂，会在纸板上留下一个洞。